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Fisica Applicata Ai Beni Culturali 2010/2011
Nome File | Tipo | Peso | Data | Accessi |
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Unità di misura | 521.96 KB | 26 Oct 2010, 13:37 | 183 | |
Termografia Infrarossa | 1071.27 KB | 26 Oct 2010, 14:08 | 338 | |
Tecniche di analisi composizionale. IBA, XRF | 1685.35 KB | 26 Oct 2010, 14:11 | 380 | |
Spettroscopia laser | 316.22 KB | 26 Oct 2010, 14:12 | 353 | |
Spettro elettromagnetico. Ottica | 427.98 KB | 26 Oct 2010, 14:06 | 306 | |
Risultati Prove Scritte 2010-2011 | 142.69 KB | 09 Feb 2011, 16:35 | 287 | |
Riflettografia IR. Fluorescenza UV. Imaging multispettrale | 756.85 KB | 26 Oct 2010, 14:08 | 415 | |
Raggi X | 687.22 KB | 26 Oct 2010, 14:08 | 366 | |
Raccolta vecchi compiti | 192.22 KB | 26 Oct 2010, 13:45 | 305 | |
Raccolta compiti di Metodi | 525.41 KB | 26 Oct 2010, 14:23 | 349 | |
Presentazione II parte del corso: dalle 8:30 alle 10:30, aula T28 | 1661.17 KB | 26 Oct 2010, 14:04 | 397 | |
Precisione e accuratezza. Cifre significative | 324.33 KB | 26 Oct 2010, 13:39 | 269 | |
Microscopia elettronica (SEM). Microanalisi EDS | 462.32 KB | 26 Oct 2010, 14:12 | 345 | |
Microanalisi | 1116.33 KB | 26 Oct 2010, 14:10 | 476 | |
Incertezza di misura | 531.56 KB | 26 Oct 2010, 13:39 | 266 |