Informazioni di Microscopia E Nanoscopia

Dipartimento: Scienze Matematiche, Fisiche E Naturali
Settore Ministeriale: FIS/03
Codice di verbalizzazione: 8066200
Metodi di insegnamento: Frontale E Altro
Metodi di valutazione: Scritto E Orale
Prerequisiti: Conoscenza fisica di base, meccanica quantistica e meccanica statistica.
Obiettivi: Conoscenza dei principi fisici e delle metodologie di indagine delle microscopie a sonda (AFM, STM, SNOM). Spettroscopie elettroniche (XPS, UPS), Diffrazione elettronica (RHEED, LEED), microscopie da luce di sincrotrone (LEEM, XPEEM). Cenni su tecniche di crescita.
Ricevimento: Lunedi' 14-16

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